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X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

描述：品牌：菲希爾樣品電大高度：140mmX/Y軸平臺(tái)移動(dòng)速度：60mm/s

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    產(chǎn)品型號：

  • 02/

    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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    更新時(shí)間：2023-10-18

  • 04/

    訪問量：1508
詳細(xì)內(nèi)容/ Product Details
  X-RAY XDV-SDD是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側(cè)厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進(jìn)行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺(tái)，是全自動(dòng)測量樣品的理想設(shè)備。

1.分析超薄鍍層，如：厚度≤0.1um的Au和Pa鍍層；

2.印刷線路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；

3.黃金成分分析

4.測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；

5.分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；

6.全自動(dòng)測量，如：用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。

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